Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Goyal A., Paranthaman M., Verebelyi D.T., Civale L., Maiorov B., Holesinger T.
Matias V., Jia Q.X., Wang H., Holesinger T.G., Ayala A.(ayala@lanl.gov), Clem P.G.(pgclem@sandia.gov), Foltyn S., Gibbons B.
Specht E.D., Holesinger T.G., Christen D.K., List F.A., Gapud A.A., Feldmann D.M., Feenstra R.(feenstrar@ornl.gov)
Arendt P.N., Foltyn S.R., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Holesinger T.G., Civale L., Maiorov B., Serquis A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, films, coated conductors, critical current density, angular dependence, Jc/B curves, experimental results, critical caracteristics
Maroni V.A., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Hellstrom E.E., Jiang J., Yuan Y., Cai X.Y., Huang Y., Liao S., Kennison J.A., Baurceanu R.M.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes multifilamentary, fabrication, microstructure, phase formation, tapes monofilamentary
Maroni V.A., Holesinger T.G., Larbalestier D.C., Polyanskii A.A., Hellstrom E.E., Jiang J., Yuan Y., Cai X.Y., Huang Y.
Ключевые слова: HTS, Bi2223/Ag, tapes multifilamentary, heat treatment, phase composition, Bi2212, microstructure, experimental results
Holesinger T.G., Meinesz M., Kennison J.A., Marken K.R.(k_marken@compuserve.com), Hanping M., Campbell S.(scott@sciengineeredmaterials.com)
Ключевые слова: HTS, Bi2212, composition, microstructure, tapes, fabrication
Rupich M.W., Li X., Zhang W., Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., MacManus-Driscoll J.L., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Maiorov B., Serquis A., Willis J.O., Civale L.(lcivale@lanl.gov)
Kreiskott S., Foltyn S.R., Jia Q.X., Wang H., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C., Holesinger T.G., Coulter J.Y., Civale L., Arendt P.N.(arendt@lanl.gov), Usov I.
Venkataraman K., Schoop U., Thieme C., Li X., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Siegal E., Lynch J., Scudiere J., Verebelyi D.T., Holesinger T.G., Rupich M.W.(mrupich@amsuper.com), Teplitsky M., Maroni V., Miller D.
Ключевые слова: HTS, coated conductors, RABITS process, MOD process, YBCO, substrate Ni-W, fabrication, microstructure, critical current density, review, critical caracteristics
Rupich M.W., Schoop U., Thieme C., Zhang W., Kodenkandath T., Nguyen N., Arendt P.N., Foltyn S.R., Verebelyi D.T., Li X.(xli@amsuper.com), Jowett M., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P.
Arendt P.N., Foltyn S.R., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Holesinger T.G., Aytug T., Christen D.K., Paranthaman M.P., Kang S., Feenstra R., Budai J.D.
Coulter J.Y., Civale L., Serquis A., Holesinger T., Hammon D.L.(hammon@lanl.gov), Liao X.Z., Zhu Y.T., Peterson D.E., Mueller F.M.
Arendt P.N., Foltyn S.R., Jia Q.X., DePaula R.F., Stan L., Groves J.R., Dowden P.C., Holesinger T.G., Emmert L.A.
Ключевые слова: HTS, YBCO, coated conductors, IBAD process, template layers, substrate metallic, microstructure, experimental results, fabrication
Ключевые слова: HTS, coated conductors, YBCO, buffer layers, template layers, IBAD process, substrate metallic, fabrication, critical current, critical caracteristics
© Copyright 2006-2012. Использование материалов сайта возможно только с обязательной ссылкой на сайт.
Свои замечания и пожелания вы можете направлять по адресу perst@isssph.kiae.ru
Техническая поддержка Alexey, дизайн Teodor.